絕緣電阻測試儀測量常見問題
1. 在測容性負(fù)載阻值時,絕緣電阻測試儀輸出短路電流大小與測量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系?
絕緣電阻測試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測試品存在電容量時,在測試過程的開始階段,絕緣電阻測試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電,并逐步將電壓充到絕緣電阻測試儀的輸出額定高壓值。顯然,如果試品的電容量值很大,或高壓源內(nèi)阻很大,這一充電過程的耗時就會加長。其長度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定(單位為秒)。請注意,給電容充電的電流與被測試品絕緣電阻上流過的電流,在測試中是一起流入絕緣電阻測試儀內(nèi)的。絕緣電阻測試儀測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量,也加入了電容充電電流分量,這時測得的阻值將偏小。
如:額定電壓為5000V的絕緣電阻測試儀,若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn)),其內(nèi)阻為5000V/80μA=62MΩ
如:試品容量為0.15μF,則時間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)即在18秒時刻,電容上的充電電流仍有11.3μA。
由此可見,僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA=442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ,則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實狀況了,而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變,即容量小,測試阻值大;容量大,測試阻值小。
所以,為保障準(zhǔn)確測得R15s,R60s的試值,應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀。我國的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA,要求高的場合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀。
2. 為什么測絕緣時,不但要求測單純的阻值,而且還要求測吸收比,極化指數(shù)?
在絕緣測試中,某一個時刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的,這是由于以下兩方面原因,一方面,同樣性能的絕緣材料,體積大時呈現(xiàn)的絕緣電阻小,體積小時呈現(xiàn)的絕緣電阻大。 另一方面,絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比過程和極化過程。 所以,電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機等許多場合的絕緣測試中應(yīng)測量吸收比-即R60s和R15s的比值,和極化指數(shù)-即R10min和R1min 比值,并以此數(shù)據(jù)來判定絕緣狀況的優(yōu)劣。
3. 在高壓高阻的測試環(huán)境中,為什么要求儀表接"G"端連線?
在被測試品兩端加上較高的額定電壓,且絕緣阻值較高時,被測試品表面受潮濕,污染引起的泄漏較大,示值誤差就大,而儀表"G"端是將被測試品表面泄漏的電流旁路,使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測試回路,消除泄漏電流引起的誤差。
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