1. 在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么
                  　　絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)，在測(cè)試過(guò)程的開(kāi)始階段，絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流，在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。
                  　　如：額定電壓為5000V的絕緣電阻測(cè)試儀，若其短路輸出電流為80μA,其內(nèi)阻為5000V/80μA=62MΩ
                  　　如：試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9
                  （秒）即在18秒時(shí)刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。
                  　　由此可見(jiàn)，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA=442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測(cè)試阻值大;容量大，測(cè)試阻值小。
                  　　所以，為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15s，R60s的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測(cè)試儀。我國(guó)的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1
                  mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測(cè)試儀。
                  　　2. 為什么測(cè)絕緣時(shí)，不但要求測(cè)單純的阻值，而且還要求測(cè)吸收比，極化指數(shù)，有什么意義
                  　　在絕緣測(cè)試中，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因，一方面，同樣性能的絕緣材料，體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對(duì)電荷的吸收比過(guò)程和極化過(guò)程。
                  所以，電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場(chǎng)合的絕緣測(cè)試中應(yīng)測(cè)量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min
                  比值，并以此數(shù)據(jù)來(lái)判定絕緣狀況的優(yōu)劣。
                  　　3. 高阻絕緣測(cè)試儀容量檢查方法（kyoritsu300、kyoritsu300、kyoritsu3125）
                  　　1、請(qǐng)按如下接線圖測(cè)量，便可鑒別你所有的絕緣測(cè)試儀表測(cè)量的結(jié)果是否準(zhǔn)確：
                  　　圖中，C為0.1μ/6.3kV電容，請(qǐng)用CBB品質(zhì)的，因它自身不會(huì)被極化，且吸收電荷極少;R為5000MΩ/5kV的電阻。
                  當(dāng)測(cè)量時(shí)間為15秒時(shí)，儀器顯示應(yīng)為R15s>4750
                  MΩ（因有電容C存在，所以被測(cè)阻值要比標(biāo)稱值小5%）;當(dāng)測(cè)量時(shí)間為60秒時(shí)，儀器顯示應(yīng)為R60s=5000MΩ，吸收比應(yīng)為R60s/R15s≤1.05。
                  　　說(shuō)明：1、第15秒時(shí)，儀器向電容C充電的電流越小，表示儀器的充電能力越強(qiáng)，吸收比就越趨于"1"。在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的吸收比才越正確。
                  　　                  　　2. 在高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中，為什么要求儀表接"G"端連線
                  　　在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí)，被測(cè)試品表面受潮濕，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經(jīng)過(guò)儀表的測(cè)試回路，消除泄漏電流引起的誤差。
                  　　3.在校測(cè)某些型號(hào)絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬(wàn)用表DCV檔測(cè)L、E兩端電壓，為什么電壓會(huì)跌落很多，而數(shù)字式萬(wàn)用表則不會(huì)

                  　　用普通的指針式萬(wàn)用表直接在絕緣電阻測(cè)試儀"L"、"E"兩端測(cè)量其輸出的額定直流電壓，測(cè)量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多（超出誤差范圍），而用數(shù)字萬(wàn)用表則不會(huì)。這是因?yàn)橹羔樖饺f(wàn)用表內(nèi)阻較小，而數(shù)字萬(wàn)用表內(nèi)阻相對(duì)較大。指針式萬(wàn)用表內(nèi)阻較小，絕緣電阻測(cè)試儀L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是，用萬(wàn)用表直接去測(cè)絕緣電阻測(cè)試儀的輸出電壓是錯(cuò)誤的，應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測(cè)量。
                  　　4.能不能用兆歐表直接測(cè)帶電的被測(cè)試品，結(jié)果有什么影響，為什么
                  　　為了人身安全和正常測(cè)試，原則上是不允許測(cè)量帶電的被測(cè)試品，若要測(cè)量帶電被測(cè)試品，不會(huì)對(duì)儀表造成損壞（短時(shí)間內(nèi)），但測(cè)試結(jié)果是不準(zhǔn)確的，因?yàn)閹щ姾?，被測(cè)試品便與其它試品連結(jié)在一起，所以得出的結(jié)果不能真實(shí)的反映實(shí)際數(shù)據(jù)，而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。
                  　　5.為什么電子式絕緣電阻測(cè)試儀幾節(jié)電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓
                  　　這是根據(jù)直流變換原理，經(jīng)過(guò)升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小。